马赫-曾德尔干涉仪
摘要https://img.jishulink.com/upload/202312/af90d307d2ee46e6af1419ecd5cb7750.png
干涉测量是一种光学计量的重要技术。 它被广泛应用于表面轮廓，缺陷，机械和高精度热变形等领域的测量。 作为一个典型的例程，在非序列场追迹的帮助下，我们在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-曾德尔干涉仪，本案例清楚地展示了光学元件的倾斜和移位对干涉条纹图案的影响。
建模任务
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元件倾斜引起的干涉条纹
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元件移位引起的干涉条纹
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文件信息
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