在Zemax 2013版中，视场和孔径采样可以在“Analysis”（分析）选项卡中设置。具体步骤如下：
1. 打开Lens Data Editor（镜头数据编辑器），选择要进行采样的分析（如MTF、PSF等）。
2. 点击Analysis（分析）选项卡中的“Sampling”（采样）按钮。
3. 在Sampling（采样）对话框中，可以设置视场和孔径采样的参数，例如采样点数、采样范围等。
4. 如果需要对不同的波长进行采样，可以点击“Wavelengths”（波长）选项卡，在其中设置各个波长的采样参数。
5. 点击“OK”按钮，完成采样设置。
注意：视场和孔径采样的具体设置参数应根据具体任务需求进行合理配置。
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